3D X-ray computerized tomography of White Etching Cracks (WEC)

Danielsen, H. K. (Corresponding author); Carrasco, A. J.; Fæster, S.; Dahl, K. V.; Gutierrez Guzman, Francisco Gerardo Antonio; Sauvage, Paul; Jacobs, Georg

New York, NY : Science Direct (2019)
Fachzeitschriftenartikel

In: Materials characterization
Band: 150
Seite(n)/Artikel-Nr.: 78-87

Einrichtungen

• Lehrstuhl und Institut für Maschinenelemente und Systementwicklung [411710]